Event Name | LAAAMP OpenLab at X-TechLab, Benin - 1st session 2019 |
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Start Date | 13th May 2019 | ||||||||||
End Date | 24th May 2019 | ||||||||||
Description |
Venues: X-TechLab, Cotonou, Benin X-TechLab is a project designed by Thierry d'Almeida and Marielle Agbahoungbata, whose mission is to endow the local and regional scientific communities with technical skills that will allow them to use X-ray techniques as tools for solving specific critical socioeconomic issues. X-TechLab includes an X-ray diffraction and X-ray tomography lab, which will serve researchers from Benin and West, Central and East African countries. X-TechLab has temporary quarters in Cotonou, and will subsequently relocate to Sèmè City from 2021. Sèmè City is the International City dedicated to Innovation and Knowledge, presently under development in an area located between Cotonou and Porto-Novo. Two training sessions per year are planned and directed to 100+ students from Benin and neighbouring countries. The first training session at the X-TechLab is held within the frameworks of the IUCr-UNESCO OpenLab initiative in partnership with LAAAMP, and the IUCr Crystallography in Africa initiative. More information about the X-TechLab. Hosting institutionsSupporting institutionsLecturersClaude Lecomte – Professeur Émérite, Université Nancy-Lorraine, France (CL) ProgrammeLundi 13 mai 201909:00-09:45 Cristallographie: un domaine incontournable de la science à l’interface de la physique, chimie, géologie et sciences de la vie (CL) Mardi 14 mai 201909:00-10:30 Diffraction des Rayons X par les cristaux partie 1 (CL) Mercredi 15 mai 201909:00-10:30 Symétrie ponctuelle, Groupes de symétrie ponctuelle (CL) Jeudi 16 mai 201909:00-10:30 Diffraction des rayons X partie 3 (CL) Vendredi 17 mai 2019
Aspects pratiques partie 2 Groupe A: Diffraction sur monocristal (EW) 09:00-10:30 Choix du cristal, présentation du logiciel de collection des données Groupe B: Diffraction sur poudres (FP) 09:00-10:30 Préparation des échantillons, paramètres de mesure et logiciels de traitement – Mesure de diffractogrammes sur le diffractomètre D2 Bruker Lundi 20 mai 201909:00-10:30 Groupe A: Etapes de résolution et d’affinement d’une structure cristalline à partir des mesures de diffraction sur monocristal: du choix du cristal au fichier CIF (EB) · Groupe B: Analyse du diffractogramme: Profils des raies, microstructure et quantification de phases. - Mesure du diffractogramme pour les TPs de 17h30 (FP) Mardi 21 mai 2019Groupes A et B 09:00-10:30 Step-by-step single-crystal diffraction technique (MZ) Journée consacrée aux mesures et interprétation - Diffractomètre monocristal (groupe A) : (EB et EM) - Conditions et stratégies de mesures - Analyse critiques des premiers résultats - Génération des différents fichiers et tableaux de données structurales - Rédaction de la partie expérimentale d’une publication scientifique - Rédaction de la description de la structure cristalline et discussion - Diffractomètre poudres (groupe B) (FP et PK) Mercredi 22 mai 2019Questionnaire à distribuer pour préparer la discussion du 23/05: acquis et difficultés 09:00-12:00 Interprétation des structures cristallines: Lecture critique de publications sur les analyses structurales à partir des données de diffraction X sur monocristal et poudres; Analyse critique des résultats cristallographiques présentés dans ces publications: quelles sont les informations fondamentales à faire figurer dans un article de cristallographie Jeudi 23 mai 201909:00-12:00 Suite des travaux pratiques sur les résolutions et affinements structuraux - Questions et discussions en petits groupes avec les enseignants sur les connaissances déjà acquises et explications. Retours sur les questionnaires de la veille. Validation des résultats et publications Vendredi 24 mai 2019Matinée consacrée aux bases de données 09:00-12:15 Introduction aux bases de données structurales: CCDC, COD (PF1, PK, FP) Sponsors |
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Location | Cotonou Benin |
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Contact | Thierry D'Almeida |
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URL | https://www.xtechlab.co/formations/ |